Complex dielectric function and opto-electronic characterization using VEELS for the lead-free BCZT electro-ceramic perovskite.

Herrera-Pérez, G; Ornelas-Gutiérrez, C; Reyes-Montero, A; Paraguay-Delgado, F; Reyes-Rojas, A; Fuentes-Cobas, L

Herrera-Pérez, G; Ornelas-Gutiérrez, C; Reyes-Montero, A; Paraguay-Delgado, F; Reyes-Rojas, A; Fuentes-Cobas, L.

Afiliação

Herrera-Pérez G; Catedra-CONACyT Assigned to Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, S. C. (CIMAV), Miguel de Cervantes 120, 31136, Chihuahua, Chih., Mexico. Electronic address: guillermo.herrera@cimav.edu.mx.
Ornelas-Gutiérrez C; Laboratorio Nacional de Nanotecnología (Nanotech), Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados S. C. (CIMAV), Miguel de Cervantes 120, 31136, Chihuahua, Chih., Mexico.
Reyes-Montero A; Instituto de Investigaciones en Materiales, Universidad Nacional Autónoma de México, Ciudad Universitaria, 04510, CDMX, Mexico.
Paraguay-Delgado F; Physics of Materials Department. Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, S. C. (CIMAV) Miguel de Cervantes 120, 31136, Chihuahua, Chih., Mexico.
Reyes-Rojas A; Physics of Materials Department. Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, S. C. (CIMAV) Miguel de Cervantes 120, 31136, Chihuahua, Chih., Mexico.
Fuentes-Cobas L; Physics of Materials Department. Centro de Investigaciones en Materiales Avanzados, S. C. (CIMAV) Miguel de Cervantes 120, 31136, Chihuahua, Chih., Mexico.

Micron ; 149: 103124, 2021 Oct.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-34314943

Palavras-chave

Dielectric function; Kramers-Kronig analysis; Perovskite; Refraction index; VEELS

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Micron Assunto da revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article País de publicação: Reino Unido

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