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Residual voltage as an ad-hoc indicator of electrode damage in biphasic electrical stimulation.
Krishnan, Ashwati; Forssell, Mats; Du, Zhanhong; Cui, X Tracy; Fedder, Gary K; Kelly, Shawn K.
Afiliação
  • Krishnan A; Department of Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Forssell M; Department of Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Du Z; Shenzhen Institute of Advanced Technology, Shenzhen City, Guangdong, People's Republic of China.
  • Cui XT; Department of Bioengineering, University of Pittsburgh, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Fedder GK; Department of Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Kelly SK; VA, Pittsburgh, PA 15240, United States of America.
J Neural Eng ; 18(4)2021 08 12.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-34400592
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Eletrodos Implantados Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Neural Eng Assunto da revista: NEUROLOGIA Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos País de publicação: Reino Unido
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