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Near-real-time diagnosis of electron optical phase aberrations in scanning transmission electron microscopy using an artificial neural network.
Bertoni, Giovanni; Rotunno, Enzo; Marsmans, Daan; Tiemeijer, Peter; Tavabi, Amir H; Dunin-Borkowski, Rafal E; Grillo, Vincenzo.
Afiliação
  • Bertoni G; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via G. Campi 213/A, 41125 Modena, Italy. Electronic address: giovanni.bertoni@cnr.it.
  • Rotunno E; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via G. Campi 213/A, 41125 Modena, Italy. Electronic address: enzo.rotunno@cnr.it.
  • Marsmans D; Thermo Fisher Scientific, PO Box 80066, 5600 KA Eindhoven, the Netherlands.
  • Tiemeijer P; Thermo Fisher Scientific, PO Box 80066, 5600 KA Eindhoven, the Netherlands.
  • Tavabi AH; Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany.
  • Dunin-Borkowski RE; Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich, 52425 Jülich, Germany.
  • Grillo V; Istituto Nanoscienze, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via G. Campi 213/A, 41125 Modena, Italy.
Ultramicroscopy ; 245: 113663, 2023 03.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-36566529
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Elétrons / Lentes Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article País de publicação: Holanda
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