Detalhe da pesquisa
1.
Impact of Nitridation on Bias Temperature Instability and Hard Breakdown Characteristics of SiON MOSFETs.
Micromachines (Basel)
; 14(8)2023 Jul 28.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-37630050
2.
Compact Physics Hot-Carrier Degradation Model Valid over a Wide Bias Range.
Micromachines (Basel)
; 14(11)2023 Oct 30.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-38004876
3.
Correlated Time-0 and Hot-Carrier Stress Induced FinFET Parameter Variabilities: Modeling Approach.
Micromachines (Basel)
; 11(7)2020 Jun 30.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-32630139